浅谈食品金属检测机探测技术的发展历程
食品金属检测机在食品、药品、纺织等行业应用十分广泛。随着工业4.0时代的来临,工业生产中越来越多的机械自动化生产线被应用。这也导致在食品、药品、原材料中混入金属屑、针头及其它金属杂质等安全问题也越来越多,给消费者的人身安全和自动化设备带来非常严重影响。同时随着社会对于食品安全的要求越来越高,对于食品金属检测机的金属检测技术要求也越来越高。
食品金属检测机探测技术的发展经历了以下几个阶段:早期的金属探测方法是采用强磁法来吸引磁性铁质金属杂质,但却不能检测到非铁质和微小的金属杂质,应用效果不佳;20世纪60年代,食品金属检测机是采用的LC谐振振荡电路进行检测,当有金属通过时,LC振荡电路会出现失谐,从而检测出金属,但其灵敏度较低,无法检测出微小金属杂质。20世纪70年代,出现了平衡线圈型检测电路,比起谐振式检测电路,它大幅度提高了食品金属检测机的探测精度;20世纪80年代以后,大规模集成电路的应用进一步提高了食品金属探测设备的技术性能和可靠性,包括双频、跨导、巨磁阻、霍尔传感器等检测方法都是这个时期出现的,但这段时期食品金属探测机一般都是采用模拟信号处理方式,这使其在抗干扰、柔韧性和精度方面还存在着较大问题。
目前正在使用的食品金属检测机采用的主要是数字金属检测技术,其检测算法主要是对产生的金属信号大小进行振幅检测,但因为大多数产品,如含有盐分、比较潮湿、用铝箔袋包装等产品在进行检测时也会有类似的金属效应,导致食品金属检测机容易产生误报,因此其应用领域无法进一步扩大。
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